Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization
De (autor): Fred Stevie
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization
De (autor): Fred Stevie
-10%
transport gratuit
PRP: 703.80 Lei
Acesta este Pretul Recomandat de Producator. Pretul de vanzare al produsului este afisat mai jos.
633.42Lei
633.42Lei
703.80 LeiPrimesti 633 puncte
Primesti puncte de fidelitate dupa fiecare comanda! 100 puncte de fidelitate reprezinta 1 leu. Foloseste-le la viitoarele achizitii!
Livrare in 2-4 saptamani
Poti comanda acest produs introducand numarul tau de telefon. Vei fi apelat de un operator Libris.ro in cele mai scurt timp pentru prealuarea datelor necesare.
Pentru a putea comanda rapid este nevoie sa introduceti numarul dvs de telefon in formatul 0xxxxxxxxx (10 cifre).Un operator Libris.ro va suna si va cere telefonic restul datelor necesare.
Descrierea produsului
Detaliile produsului
De pe acelasi raft
-
-10%
transport gratuit
Run Your Diesel Vehicle on Biofuels: A Do-It-Yourself Manual: A Do-It-Yourself Manual - Jon Starbuck
PRP: 211.42 Lei
190.28 Lei
190.28 Lei211.42 Lei
Parerea ta e inspiratie pentru comunitatea Libris!